產(chǎn)品名稱:95成新二手電鏡JSM-6510
產(chǎn)品型號:JSM-6510
更新時(shí)間:2020-06-21
產(chǎn)品特點(diǎn):95成新二手電鏡JSM-6510:是一款性能低價(jià)格的掃描電子顯微鏡,分辨率可達(dá)3.0nm。可按用戶要求定做的操作接口便于用戶直觀操作儀器。Smile Shot™軟件保證得到電子光學(xué)參數(shù)。JSM-6510的LGS型大樣品臺和GS型普通樣品臺可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。
產(chǎn)品詳細(xì)資料:
95成新二手電鏡JSM-6510:主要特點(diǎn)
1. | 電子光學(xué)系統(tǒng),簡單操作 | ||
Ⅰ | 新設(shè)計(jì)的超級圓錐型物鏡,保證3nm的分辨率。很容易得到高質(zhì)量照片。 | ||
Ⅱ | 廣域掃描線圈可以得到低5倍的放大倍數(shù)從而提高觀察樣品的效率。 | ||
Ⅲ | 電子光學(xué)系統(tǒng)可以在大束流下形成小束斑,有利于微區(qū)分析。 | ||
2. | 高分辨率 | ||
Ⅰ | JSM6510系列超級圓錐形物鏡,在工作距離8mm時(shí)的分辨率為3nm,超級圓錐形物鏡 | ||
2 | 的外形設(shè)計(jì)可以做到短工作距離情況下樣品仍然可以大角度傾斜。 | ||
3. | 全自動電子槍 | ||
2 | Ⅰ | JEOL開發(fā)的全自動電子槍能夠產(chǎn)生極小電子束源,只要選擇好加速電壓,就可以進(jìn) | |
行觀察或成分分析。 | |||
Ⅱ | 電子槍偏壓是調(diào)節(jié)電子槍亮度的重要部件。JEOL的無縫自給加壓系統(tǒng)能隨著電壓變 | ||
化隨時(shí)調(diào)整偏壓,使得無論選擇哪個(gè)加速電壓,都能得到亮度。 | |||
Ⅲ | JEOL*的像散記憶功能能夠自動糾正隨加速電壓或工作距離改變而產(chǎn)生的像散。 | ||
1KV | 5KV | ||
10KV | 20KV | ||
4. | 多圖顯示模式 | ||
3 | Ⅰ | 主顯示區(qū)可以同時(shí)顯示兩幅實(shí)時(shí)圖像,分別為二次電子像和背散射電子像,參考區(qū) | |
也可顯示2幅實(shí)時(shí)圖像,例如二次電子圖像,背散射電子圖像或CCD相機(jī)圖像。 | |||
Ⅱ | 雙實(shí)時(shí)顯示模式可以用于不同信號圖像的對比,用戶可在觀察表面形貌的同時(shí)了解 | ||
樣品的成份分布情況。 | |||
Ⅲ | 選用多種圖像顯示模式時(shí),點(diǎn)擊"PHOTO"按紐可同時(shí)獲得并存儲2或3幅全屏尺度圖像。 | ||
5. | 簡單易懂的操作接口及菜單 | ||
Ⅰ | 操作接口簡單,直觀,默認(rèn)的操作接口顯示了常用的功能按鈕,并以簡單圖文標(biāo) | ||
明,點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可操作所有功能。 | |||
Ⅱ | 實(shí)時(shí)量測,圖片上的長度和角度等結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)能在顯示器上進(jìn)行測量。 | ||
6. | 可變焦聚光鏡修正 | ||
Ⅰ | 做表面觀察和元素分析等不同應(yīng)用時(shí),選擇合適束流,一般是通過聚光鏡 | ||
與物鏡光闌來控制電子束流的。如果在調(diào)整束流過程中,焦點(diǎn)和觀察區(qū)域位移變化 | |||
很小,調(diào)整起來會比較方便。JEOL*的可變焦聚光鏡可以保證這一點(diǎn)。 | |||
95成新二手電鏡JSM-6510:掃描電子顯微鏡
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(EDS),統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制,操作員只用一只鼠標(biāo),就可完成從圖像觀測到元素分析的整個(gè)過程。
操作窗口
直觀的操作界面的設(shè)計(jì),簡明易懂便于迅速掌握操作。
支持多用戶
單個(gè)用戶可以根據(jù)常用功能設(shè)置相應(yīng)的圖標(biāo),營造快捷的操作環(huán)境。用戶登錄時(shí),即可加載已注冊過的設(shè)定。
同時(shí)顯示兩幅圖像
畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實(shí)時(shí)圖像。可同時(shí)觀察樣品的形貌和組成分布。
微細(xì)結(jié)構(gòu)測量
適合于多種測量功能??稍谟^察圖像上直接進(jìn)行測量。也可將測量結(jié)果貼至SEM圖像,保存在文件中。
標(biāo)準(zhǔn)的全對中樣品臺,能收錄三維照片
3D Sight(選配件),能夠進(jìn)行平面測量和高度測量,實(shí)現(xiàn)立體俯視圖。
從圖像觀察到元素分析,配合連貫
分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺監(jiān)視器,一臺用于SEM圖像觀察和另一臺用于元素分析(EDS)。一只通用鼠標(biāo)即可同時(shí)控制兩臺監(jiān)視器。大尺寸畫面使操作更加簡便與舒適。
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